引言:
隨著電子產(chǎn)品趨向微型化和高密度化,印刷電路板(PCB)的層間間距不斷縮小。在高溫高濕環(huán)境下,如雙八五條件(85℃/85%RH)下,離子遷移(CAF)現(xiàn)象成為電路絕緣失效的主要原因。金屬離子沿玻璃纖維界面遷移形成導(dǎo)電路徑,輕則造成信號干擾,重則導(dǎo)致短路,直接影響產(chǎn)品的使用壽命和安全性。間歇性電阻測試的傳統(tǒng)檢測方法易受環(huán)境波動影響,掩蓋真實(shí)問題。因此,實(shí)現(xiàn)全時監(jiān)測并精確捕捉絕緣劣化信號變得至關(guān)重要。上海柏毅的CAF離子遷移測試系統(tǒng)為此提供了有效的解決方案。
上海柏毅CAF離子遷移測試系統(tǒng)的技術(shù)優(yōu)勢:解決方案
上海柏毅自主研發(fā)的CAF離子遷移測試系統(tǒng),專為PCB、FPC、HDI線路板設(shè)計,配備
恒溫恒濕試驗(yàn)箱,提供一站式絕緣可靠性驗(yàn)證方案:
全時在線監(jiān)測,確保數(shù)據(jù)完整性
支持256通道并行測試(可擴(kuò)展至320通道),能夠同時對多組線路施加1500V高壓,模擬極限工況。
實(shí)時檢測泄漏電流與絕緣電阻,避免傳統(tǒng)方法因取出PCB導(dǎo)致的干燥干擾,精確捕捉離子遷移發(fā)生時刻。
雙八五環(huán)境模擬,加速失效驗(yàn)證
內(nèi)置溫濕度傳感器與試驗(yàn)箱聯(lián)動,確保測試全程穩(wěn)定處于85℃、85%RH環(huán)境,加速材料老化,縮短研發(fā)周期。
支持500V-1500V連續(xù)可調(diào)偏置電壓,適應(yīng)不同耐壓等級的PCB產(chǎn)品測試需求。
智能分析與定制化報告
配備**數(shù)據(jù)分析軟件,可追蹤電阻變化曲線、自定義失效閾值(如電阻值≤1MΩ判定失效),一鍵生成圖文報告,支持PDF/Excel格式導(dǎo)出。
系統(tǒng)自檢功能自動識別電纜開路/短路,確保測試穩(wěn)定性,降低人工干預(yù)成本。
**廠商的選擇與反饋:應(yīng)用案例
上海柏毅CAF離子遷移測試系統(tǒng)已通過多家頭部PCB企業(yè)的嚴(yán)格驗(yàn)證,成為其提升產(chǎn)品可靠性的**工具:
在0.1mm線距的HDI板生產(chǎn)中,系統(tǒng)實(shí)時捕捉到玻璃纖維與樹脂界面因熱應(yīng)力產(chǎn)生的微米級裂紋,監(jiān)測到絕緣電阻從10GΩ驟降至50MΩ,提前預(yù)警潛在失效風(fēng)險,助力良品率提升12%。
針對車規(guī)級PCB的雙八五環(huán)境測試需求,系統(tǒng)通過64通道并行加壓,在500小時連續(xù)測試中識別出3處離子遷移路徑,幫助優(yōu)化阻焊油墨配方,一次性通過AEC-Q100認(rèn)證。
采用256通道高壓版系統(tǒng),對高頻高速板的層間絕緣材料進(jìn)行1500V耐壓測試,發(fā)現(xiàn)樹脂填充不均導(dǎo)致的局部漏電流異常,改良后產(chǎn)品市場失效率降低60%。
為何選擇上海柏毅?
自主研發(fā)實(shí)力:20年環(huán)境測試設(shè)備經(jīng)驗(yàn),累計服務(wù)華為、盛宏、華測、比亞迪等100+客戶。
全場景適配:系統(tǒng)兼容PCB、FPC、HDI、IC封裝材料、絕緣漆等多類產(chǎn)品檢測。
終身服務(wù)保障:終身技術(shù)支持、48小時響應(yīng)售后、定期校準(zhǔn)支持。
技術(shù)參數(shù)解析:**適配多場景需求
上海柏毅提供B-MIRD-1508(高壓版)與B-MIRD-0502(標(biāo)準(zhǔn)版)雙版本系統(tǒng),滿足不同層級檢測需求(可定制):
**能力 | B-MIRD-1508(高壓版) | B-MIRD-0502(標(biāo)準(zhǔn)版) |
通道擴(kuò)展 | 256通道(最大支持320通道) | 64通道(最大支持320通道) |
偏置電壓范圍 | 10-1500VDC連續(xù)可調(diào) | 10-500VDC連續(xù)可調(diào) |
絕緣電阻測試精度 | ±1%(1M-100MΩ),±3%(100M-1GΩ) | ±1%(1M-100MΩ),±3%(100M-1GΩ) |
適用場景 | 車規(guī)級PCB、**電子、大功率儲能設(shè)備 | 消費(fèi)電子、通信設(shè)備、醫(yī)療儀器 |
獨(dú)特優(yōu)勢 | 支持1500V耐壓測試,可模擬極端工況 | 性價比高,滿足常規(guī)高濕老化驗(yàn)證需求 |
共性優(yōu)勢:
- 全時監(jiān)測:實(shí)時采集泄漏電流(精度±0.1mA)與溫濕度數(shù)據(jù),采樣頻率達(dá)1次/秒;
- 智能判定:支持自定義失效閾值(如電阻下降50%或**值≤1MΩ),自動觸發(fā)報警;
- 數(shù)據(jù)追溯:電阻變化曲線可精確到分鐘級,支持與恒溫恒濕試驗(yàn)箱數(shù)據(jù)同步分析;
- 柔性配置:測試電纜標(biāo)配2.5m耐高溫屏蔽線,可定制5m長線方案,適配大型步入式試驗(yàn)箱。
適用場景
車規(guī)級PCB、**電子、消費(fèi)電子、通信設(shè)備
為何參數(shù)設(shè)計直擊行業(yè)痛點(diǎn)?
通道擴(kuò)展性:模塊化設(shè)計支持從32到320通道靈活擴(kuò)容,單臺設(shè)備即可覆蓋從研發(fā)小樣到批量生產(chǎn)的全周期測試;
電壓**控制:采用高精度DC電源模組,電壓波動≤±0.5%,確保離子遷移加速實(shí)驗(yàn)的復(fù)現(xiàn)性;
環(huán)境兼容性:系統(tǒng)工作環(huán)境兼容20-30℃/75%RH,與試驗(yàn)箱內(nèi)雙八五條件形成溫差保護(hù),避免設(shè)備結(jié)露損壞。
通過“高壓+多通道+實(shí)時監(jiān)測”的技術(shù)組合,上海柏毅為PCB企業(yè)提供從材料篩選、工藝優(yōu)化到量產(chǎn)質(zhì)檢的全鏈條絕緣可靠性解決方案。
結(jié)語:以技術(shù)創(chuàng)新守護(hù)PCB可靠性
在5G、新能源汽車、AI服務(wù)器等高可靠性需求領(lǐng)域,上海柏毅CAF離子遷移測試系統(tǒng)通過**數(shù)據(jù)+智能分析,助力企業(yè)從源頭把控產(chǎn)品質(zhì)量,降低市場失效風(fēng)險。如需獲取定制化解決方案或技術(shù)白皮書,歡迎聯(lián)系上海柏毅團(tuán)隊!
立即咨詢:18017970031 | 官網(wǎng):www.boeitest.com